Tesaurus d'Art i Arquitectura Getty Institute 1998-11-30 2025-09-22 21:24:01 ca microscòpia de forces atòmiques300380468 Forma de microscòpia de sonda de rastreig de molt alta resolució en la qual es mou una mostra en una solució amb una agulla atòmica afilada (per exemple, només uns quants àtoms d'ample) muntada sobre una molla voladissa i, posteriorment, un detector detecta el desviament, mesura la força entre l'agulla i la superfície i transmet la informació a un sistema electrònic. atomic force microscopy atomic force microscopy (traducció pendent) 2026-03-30 20:25:26